HN11C高壓開關綜合測試儀高壓開關儀 HN11C系列 高壓開關操作電源 廠家發(fā)貨
一、功能特點 

測試指標：可測試國產（進口）真空、六氟化硫、油高壓斷路器，負荷開關、GIS接地刀閘開關、接觸器、繼電器、空氣開關等。合、分閘時間、同期、彈跳時間、次數(shù)、自動重合閘、行程、速度、電流、動作電壓等各項數(shù)據(jù)、波形。

抗擾通道：可抵御550KV變電所現(xiàn)場靜電干擾！在某些要求傳感器能長期使用而又不能輕易更換或標定的場合，所選用的傳感器穩(wěn)定性要求更嚴格，要能夠經受住長時間的考驗。線性范圍傳感器的線形范圍是指輸出與輸入成正比的范圍。以理論上講，在此范圍內，靈敏度保持定值。傳感器的線性范圍越寬，則其量程越大，并且能保證一定的測量精度。在選擇傳感器時，當傳感器的種類確定以后要看其量程是否滿足要求。但實際上，任何傳感器都不能保證的線性，其線性度也是相對的。當所要求測量精度比較低時，在一定的范圍內，可將非線性誤差較小的傳感器近似看作線性的，這會給測量帶來的方便。

位移通道：1路位移信號采集，適配耐用的精密電阻線性位移、角位移傳感器。亦可適配用戶傳統(tǒng)自配的滑線電阻傳感器。

同步觸發(fā)：可響應電壓、電流、傳感器、斷口變化多種同步觸發(fā)方式。具有無電位接點操作控制模塊，無彈跳接點，接點開斷容量： 30A，250V（AC/DC）

操作界面：5.7″黑白液晶屏，菜單式操作，并在面板上增加了快捷設置按鍵。配備高精度激光傳感器，傳感器安裝迅速、快捷、簡單；同時也可配置滑線電阻傳感器和角度傳感器；并配備齊全相關傳感器、斷路器的測試支架；半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

速度定義：提供了常用的開關速度定義庫和可編輯速度定義庫兩種模式可供用戶自行選擇。

錄波功能：12路普通金屬觸頭通斷、線圈電流；行程、時間波形。具有斷路器型號庫功能，測試時可直接調用數(shù)據(jù)庫斷路器型號，無需特別設置

U盤存儲：可將數(shù)據(jù)及波形文件快速存儲到U盤，直接用上位機軟件打開。

在線幫助：儀器內置豐富的接線、安裝、測試操作幫助。無說明書就能簡單使用。IT6400無論從精度還是爬升速度上，均能很好的匹配國標中的指標要求。**氣囊從觸發(fā)，到充氣膨脹，再到駕駛員頭部陷入氣囊，直至氣囊被壓扁的全過程不超過110ms。IT6400系列電源擁有高達1nA的解析度，小于20us的超快動態(tài)相應時間，設計的速度切換模式可讓電壓或電流的上升波形高速無過沖，上升時間快可達150us，同時，用戶還可通過波形顯示功能實現(xiàn)示波器的體驗，讓測試更加簡便。