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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量
冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

露點(diǎn)

測(cè)量范圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

X熒光光譜可以對(duì)固體,甚至液體、氣體中元素做快速定性定量的,對(duì)各材質(zhì)的絕大多數(shù)如金屬、合金、陶瓷、玻璃、玉石珠寶甚至?xí)?、顏料、油畫中的元素或微量元素含量做定性識(shí)別和定量。X射線熒光光譜在考古學(xué)中主要應(yīng)用在鑒定古物的年代、真?zhèn)巍a(chǎn)地、制作工藝等方面。X熒光光譜在考古中的應(yīng)用應(yīng)用一:的鑒定1)材質(zhì)鑒定有些用肉眼就可以分辨是陶器還是青銅器;有些用肉眼就不好分辨,考古學(xué)家們有時(shí)為一件是什么材質(zhì)爭(zhēng)論不休。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

后將開關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低于約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電后繼續(xù)使用。

3、開始測(cè)量

打開儀測(cè)量管道上的針型閥,然后用面板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其后每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成后,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見下節(jié)內(nèi)容。同樣的輸入輸出電壓、同樣的功率、同樣的封裝,不同廠家的電源模塊,哪個(gè)性能更好?對(duì)于一個(gè)性能優(yōu)良的電源模塊來說,需要測(cè)試的項(xiàng)目很多,而且這些性能之間是緊密聯(lián)系的,本文挑選其中幾個(gè)方面的性能進(jìn)行對(duì)比闡述。穩(wěn)定可靠穩(wěn)定可靠性是根本,如果工作時(shí)電源模塊運(yùn)行穩(wěn)定可靠都不能保證,其他性能也就別提了。從設(shè)計(jì)的角度來看,需要考慮當(dāng)模塊處于惡劣環(huán)境時(shí)模塊中每個(gè)器件電應(yīng)力和熱應(yīng)力在允許范圍內(nèi)并保證留有一定裕量,且在系統(tǒng)受到一定干擾時(shí),應(yīng)保持穩(wěn)定。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量后,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上面步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束后,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

受到兩部分鐵芯閉合程度的影響,電流鉗精度通常比互感器差。同樣地基于電磁感應(yīng)的電流鉗也只能測(cè)量交流。基于霍爾效應(yīng)的電流鉗在鐵芯中加工一個(gè)氣隙放置霍爾元件。利用霍爾元件測(cè)量氣隙中的磁感應(yīng)強(qiáng)度,根據(jù)控制方式不同,有開環(huán)和閉環(huán)兩種類型。開環(huán)霍爾型使用線性度較好的霍爾元件,霍爾元件輸出電壓正比于被測(cè)電流。閉環(huán)霍爾型使用零磁通技術(shù),鐵芯上有補(bǔ)償線圈。當(dāng)初級(jí)有被測(cè)電流在鐵芯中產(chǎn)生磁通時(shí),霍爾元件檢測(cè)鐵芯中的磁感應(yīng)強(qiáng)度,通過負(fù)反饋將此誤差電壓轉(zhuǎn)換為電流驅(qū)動(dòng)補(bǔ)償線圈,抵消鐵芯中的磁通,終被測(cè)電流與補(bǔ)償線圈產(chǎn)生的磁通量大小一致方向相反,通過測(cè)量補(bǔ)償線圈的電流即可按照匝數(shù)比換算出被測(cè)電流。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁面,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)后,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁,此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁面。

顯示時(shí)從后一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。DM濾波器衰減了中頻段DM噪聲(2MHz至30MHz)近35dBμV/m。此外高頻段噪聲(30MHz至100MHz)也有所降低,但仍超過限制水平。這主要是因?yàn)镈M濾波器對(duì)于高頻段CM噪聲的濾除能力有限。C5標(biāo)準(zhǔn)下的噪聲特性(帶DM濾波器)顯示了增加CM和DM濾波器后的噪聲特性。與相比,CM濾波器的增加降低了近20dBμV/m的CM噪聲。并且EMI性能也通過了CISPR25C5標(biāo)準(zhǔn)。C5標(biāo)準(zhǔn)下的噪聲特性(帶CM和DM濾波器)顯示了不同布局下帶CM和DM濾波器的噪聲特性,其中濾波器與相同。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁面。

通過“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒后,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 為了滿足傳導(dǎo)發(fā)射限制的要求,通常使用電磁干擾(EMI)濾波器來電子產(chǎn)品產(chǎn)生的傳導(dǎo)噪聲。但是怎么選擇一個(gè)現(xiàn)有的濾波器或者設(shè)計(jì)一個(gè)能滿足需要的濾波器?工程師表現(xiàn)得很盲目,只有憑借經(jīng)驗(yàn)作嘗試。根據(jù)經(jīng)驗(yàn)使用一個(gè)濾波器,如果不能滿足要求再重新修改設(shè)計(jì)或者換另一個(gè)新的濾波器。要找到一個(gè)合適的EMI濾波器就成為一個(gè)費(fèi)時(shí)且高成本的任務(wù)。電子系統(tǒng)產(chǎn)生的干擾特性解決問題要了解電子系統(tǒng)產(chǎn)生的總干擾情況,需要多少干擾電壓才能滿足標(biāo)準(zhǔn)要求?共模干擾是多少,差模干擾是多少?只有明確了這些干擾特性我們才能根據(jù)實(shí)際的需要提出要求。冷鏡式露點(diǎn)儀 SF6綜合測(cè)試儀 sf6冷鏡法露點(diǎn)儀 高質(zhì)量


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