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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗(yàn),電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用於開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做
詳情介紹:

HN2016智能sf6微水測(cè)試儀sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做
sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做

露點(diǎn)

測(cè)量範(fàn)圍

80 ℃~+20

測(cè)量精度

±1℃(-80℃~+20℃)

測(cè)量時(shí)間

(+20℃)

<3分鐘。

環(huán)境溫度

  40℃~+60

通過(guò)對(duì)物體自身輻射的紅外能量的測(cè)量,便能準(zhǔn)確地測(cè)定它的表麵溫度,這就是紅外輻射測(cè)溫所依據(jù)的客觀基礎(chǔ)。紅外測(cè)溫儀亦稱紅外輻射測(cè)溫,是一種利用物體自身發(fā)射的紅外輻射測(cè)量物體溫度的技術(shù)。紅外輻射或稱紅外線是波長(zhǎng)位於.76μm~1μm之間的電磁輻射,對(duì)於理想的黑體其單位表麵積向半球空間發(fā)射的所有波長(zhǎng)的總輻射功率(簡(jiǎn)稱全輻射度或輻射強(qiáng)度)與物體溫度的4次方成正比:Mb(T)=σT^4這就是的斯蒂芬-玻爾茲曼定律。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做1、連接SF6設(shè)備

將測(cè)量管道上螺紋端與開(kāi)關(guān)接頭連接好,用扳手?jǐn)Q緊,關(guān)閉測(cè)量管道上另一端的針型閥;

再把測(cè)試管道上的快速接頭一端插入儀器上的采樣口;

將排氣管道連接到出氣口。

後將開(kāi)關(guān)接頭與SF6電氣設(shè)備測(cè)量接口連接好,用扳手?jǐn)Q緊;

2、檢查電量

本儀器優(yōu)先使用交流電。

使用直流電時(shí),請(qǐng)查看右上角顯示的電池電量,如果電量低於約20%,請(qǐng)關(guān)機(jī)充電後繼續(xù)使用。

3、開(kāi)始測(cè)量

打開(kāi)儀測(cè)量管道上的針型閥,然後用麵板上的流量閥調(diào)節(jié)流量,把流量調(diào)節(jié)到0.5L/M左右,開(kāi)始測(cè)量SF6露點(diǎn)。

設(shè)備測(cè)量時(shí)間需要510分鐘,其後每臺(tái)設(shè)備需要35分鐘。

4、存儲(chǔ)數(shù)據(jù)

設(shè)備測(cè)量完成後,可以將數(shù)據(jù)保存在儀器中,按“確定”鍵調(diào)出操作菜單,具體操作方式見(jiàn)下節(jié)內(nèi)容。,Linux內(nèi)核是使用make命令來(lái)配置並編譯的,那必然少不了Makefile。如此複雜、龐大的內(nèi)核源碼絕不可能使用一個(gè)或幾個(gè)Makefile文件來(lái)完成配置編譯,而是需要一套同樣複雜、龐大,且為L(zhǎng)inux內(nèi)核定製的Makefile係統(tǒng)。儘管這是一個(gè)複雜的係統(tǒng),但對(duì)絕大部分內(nèi)核來(lái)說(shuō)隻需要知道如何使用,而無(wú)需了解其中的細(xì)節(jié)。她對(duì)絕大部分內(nèi)核基本上是透明的,隱藏了大部分實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié),有效地降低了的負(fù)擔(dān),能使其能專注於內(nèi)核開(kāi)發(fā),而不至於花費(fèi)時(shí)間和精力在編譯過(guò)程上。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做

5、測(cè)量其他設(shè)備

一臺(tái)設(shè)備測(cè)量後,關(guān)閉測(cè)量管道上的針型閥和微水儀上的調(diào)節(jié)閥。將轉(zhuǎn)接頭從SF6電氣設(shè)備上取下。如果需要繼續(xù)測(cè)量其他設(shè)備,按照上麵步驟繼續(xù)測(cè)量下一臺(tái)設(shè)備。

6、測(cè)量結(jié)束

所有設(shè)備測(cè)量結(jié)束後,關(guān)閉儀器電源。

 

一、 菜單操作

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)確定鍵可以進(jìn)入功能菜單,如圖1。

已介紹過(guò)透明轉(zhuǎn)換模式的轉(zhuǎn)換方法,本文將以CSM100係列的模塊簡(jiǎn)述模塊的透明帶標(biāo)識(shí)轉(zhuǎn)換格式。該轉(zhuǎn)換模式串行幀中的“幀ID”自動(dòng)轉(zhuǎn)換成CAN報(bào)文中的幀ID。隻要在配置中告訴模塊該“幀ID”的地址編號(hào)在串行幀的起始位置和長(zhǎng)度,模塊在轉(zhuǎn)換時(shí)提取出這個(gè)“幀ID”填充在CAN報(bào)文的幀ID域裡,作為該串行幀轉(zhuǎn)發(fā)時(shí)的CAN報(bào)文的幀ID。在CAN報(bào)文轉(zhuǎn)換成串行幀的時(shí)候也把CAN報(bào)文幀ID轉(zhuǎn)換在串行幀的相應(yīng)位置。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做

1、保存數(shù)據(jù)

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“保存記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入保存數(shù)據(jù)頁(yè)麵,保存數(shù)據(jù)時(shí),可以根據(jù)設(shè)備進(jìn)行編號(hào)。

設(shè)備編號(hào)多為六位,可以通過(guò)“上”、“下”鍵增加數(shù)值大小,“左”、“右”鍵調(diào)整數(shù)據(jù)位數(shù)。

輸入編號(hào)後,按“確定”鍵,完成保存數(shù)據(jù)。按“返回”鍵可以返回上一頁(yè),此時(shí)不保存數(shù)據(jù)。

2、查看記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“查看記錄”菜單,按“確定”鍵,進(jìn)入查看記錄頁(yè)麵。

顯示時(shí)從後一個(gè)被保存的數(shù)據(jù)開(kāi)始。

可以按“上”、“下”鍵翻看數(shù)據(jù)。由於感應(yīng),便會(huì)吸引電子,並開(kāi)啟溝道。如果浮柵中有電子的注時(shí),即加大的管子的閾值電壓,溝道處?kù)蛾P(guān)閉狀態(tài)。這樣就達(dá)成了開(kāi)關(guān)功能。如所示,這是EPROM的寫(xiě)入過(guò)程,在漏極加高壓,電子從源極流向漏極溝道充分開(kāi)啟。在高壓的作用下,電子的拉力加強(qiáng),能量使電子的溫度極度上升,變?yōu)闊犭娮?hotelectron)。這種電子幾乎不受原子的振動(dòng)作用引起的散射,在受控製柵的施加的高壓時(shí),熱電子使能躍過(guò)SiO2的勢(shì)壘,注入到浮柵中。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做

3、刪除記錄

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇“刪除記錄”菜單,按“確定”鍵,可刪除所有數(shù)據(jù)。

4、修改時(shí)間

在測(cè)量狀態(tài),通過(guò)按“確定”鍵可以進(jìn)入功能菜單,按“上”、“下”鍵選擇修改時(shí)間,按“確定”鍵,進(jìn)入修改時(shí)間頁(yè)麵。

通過(guò)“上”、“下”鍵可以增加時(shí)間數(shù)值,“左”、“右”鍵可以減小時(shí)間數(shù)值。

輸入小時(shí)、分鐘、秒後,按“確定”鍵可以轉(zhuǎn)到下一個(gè)修改域內(nèi)。

 在該電源接入電網(wǎng)後,會(huì)對(duì)電網(wǎng)內(nèi)其他的用電設(shè)備產(chǎn)生影響,導(dǎo)致電網(wǎng)內(nèi)直流電源的輸出紋波較高,無(wú)法正常測(cè)試。即使移除地線的連接,將交直流源各自分開(kāi)至很遠(yuǎn)的位置,並通過(guò)不同的空開(kāi)接入後,乾擾依舊存在。某電源對(duì)電網(wǎng)內(nèi)直流源輸出乾擾波形而在相同的測(cè)試環(huán)境使用APM全天科技可編程交流電源後,直流源輸出純淨(jìng)穩(wěn)定,無(wú)任何影響。APM全天科技可編程交流電源通過(guò)嚴(yán)苛的EMC測(cè)試等級(jí),符合歐盟電磁兼容指令214/3/EU/EN61326-1:213ClassA以及FCCCFR47第15部分的要求。sf6微量水分測(cè)試儀 sf6純度測(cè)試儀 sf6冷鏡式露點(diǎn)儀 定製定做


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